J Clin Periodontol：CBCT用于测量腭粘膜厚度的准确性
2020-04-30 网络 网络
本研究旨在探讨使用锥形束计算机断层扫描（CBCT）测量腭粘膜厚度的准确性，建立换算公式以更准确地评估腭粘膜厚度。并且，利用CBCT和换算公式对日本人群的腭粘膜厚度进行评估。
本研究旨在探讨使用锥形束计算机断层扫描（CBCT）测量腭粘膜厚度的准确性，建立换算公式以更准确地评估腭粘膜厚度。并且利用CBCT和换算公式对日本人群的腭粘膜厚度进行评估。
我们使用CBCT、数字印模和K文件评估了10个健康受试者15个位点的腭粘膜厚度。使用多元回归分析，建立了一个换算公式来准确测量腭黏膜厚度。并收集174例患者的CBCT数据，应用换算公式，对腭粘膜厚度进行评估。
结果发现，测量位点影响测量误差。使用CBCT的测量值比实际测量值小0.34±0.04 mm；因此，建立了一个换算公式。男性、年龄≥60岁、探诊深度≥4 mm与腭粘膜厚度有显着的正相关关系；但没有检测到探诊出血与腭粘膜厚度之间的相关性。
因此，我们推断，CBCT可用于无创、准确地测量腭粘膜厚度。
Miho Ogawa， Accuracy of cone beam computed tomography in evaluation of palatal mucosa thickness. journal of clinical periodontology， 2020， doi：10.1111/jcpe.13254
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