Translational Psychiatry: 长效纳曲酮治疗阿片类药物使用障碍过程中内侧前额叶的神经可塑性——纵向结构磁共振成像研究

阿片类药物使用障碍（OUD）是美国致病和致死的主要原因之一。研究显示，OUD与大脑结构上的改变相关，尤其是灰质体积和皮层厚度的下降。长效纳曲酮（XR-NTX）作为μ-阿片受体拮抗剂，广泛用于治疗OUD，能有效减少渴望和预防复发。然而，关于XR-NTX对大脑结构的影响仍缺乏充分研究。皮层厚度是神经结构完整性的关键指标，XR-NTX对大脑皮层厚度的潜在影响有待探索。本研究旨在通过纵向结构磁共振成像（sMRI），研究XR-NTX对OUD患者大脑皮层厚度的影响，尤其是内侧前额叶皮层（mPFC）和前扣带皮层（ACC）这些富含μ-阿片受体（MOR）的区域。

研究招募了47名经过解毒的OUD患者和56名无阿片使用史的对照组。OUD患者接受了长效纳曲酮治疗，并在治疗前（基线）和首次注射XR-NTX后约11天（治疗中）分别进行结构磁共振成像评估。部分患者还在第三次注射后约44天进行了随访评估。皮层厚度的变化通过高级归一化工具（ANTs）进行分析。为了评估XR-NTX诱导的皮层厚度变化是否与MOR的结合潜力相关，研究还使用了[¹¹C]羧芬太尼正电子发射断层扫描（PET）数据，分析不同脑区MOR结合潜力与皮层厚度变化之间的关系。

图1：皮质厚度随时间的变化

在OUD患者中，从基线到治疗中，内侧前额叶和前扣带皮层的厚度显著减少。而在基线时，这些区域的皮层厚度与无阿片使用史的对照组相似，表明这种厚度减少是治疗引起的而非OUD引起的。此外，皮层厚度的减少与渴望的减少呈正相关，即皮层厚度下降越明显，渴望减轻的幅度越大。多项回归分析显示，皮层厚度的减少与这些区域MOR结合潜力的高低呈曲线关系，MOR结合潜力较高的区域厚度变化更显著。

图2：皮层厚度变化与阿片类药物渴求

研究表明，XR-NTX治疗OUD时，内侧前额叶和前扣带皮层的厚度显著减少，这种变化与患者渴望的减轻相关，提示XR-NTX可能通过影响这些富含MOR的大脑区域，发挥其临床治疗效果。尽管这种皮层厚度的变化未恢复至对照组水平，但反映了治疗带来的神经可塑性。该研究首次展示了XR-NTX对OUD患者大脑结构的影响，为开发新的OUD治疗方法提供了重要的神经机制见解。

原始出处：
Shi, Z., Li, X., Todaro, D. R., Cao, W., Lynch, K. G., Detre, J. A., Loughead, J., Langleben, D. D., & Wiers, C. E. (2024). Medial prefrontal neuroplasticity during extended-release naltrexone treatment of opioid use disorder – a longitudinal structural magnetic resonance imaging study. *Translational Psychiatry, 14*(360). https://doi.org/10.1038/s41398-024-03061-0