European Radiology：如何减少心脏磁共振成像中植入式电子设备引起的金属伪影？

心脏磁共振（CMR）成像通常是对心脏进行高级评估的首选成像方法，可以对心脏功能、结构、心肌瘢痕和血流动力学进行无创评估。目前欧洲心脏病学会关于心脏起搏的指南批准了对心脏植入式电子设备（CIED）患者的磁共振成像（MRI），如起搏器（PM）、植入式心律转复除颤器（ICD）和心脏再同步治疗（CRT）设备。然而，由于CIED发生器和起搏导线中使用的金属材料，CIED会诱发局部磁场不均匀性，导致MRI上出现基于磁敏感性伪影，这些伪影在图像中表现为信号损失区和几何失真。此外，当使用平衡稳态自由步进（bSSFP）序列进行cine或晚期钆增强（LGE）成像时，视野内或附近的任何铁磁性物质都会增加图像中带状伪影的出现。

最近的研究提出了几种减少CIED相关伪影的方法，如右侧发生器植入和宽频LGE成像。更为普遍的是，通过使用宽带BSSFP脉冲序列、在BSSFP cine和LGE成像前采用频率扫描方法以及采用变质梯度回波（SPGR）序列代替BSSFP，可以减少金属伪影。

此外在MRI过程中，相对于CIED发生器抬高同侧手臂已被描述为CIED患者MRI扫描方案的一部分。抬高发电机一侧的手臂可以增加心脏和发电机之间的距离。这种方法可以减少CIED引起的心肌覆盖伪影。然而，举臂成像对CMR IQ的影响仍是未知的。

近日，发表在European Radiology杂志的一项研究探讨了CIED患者的CMR智商和安全性，并评估了抬臂成像和发生器植入部位对CIED引起的伪影影响。

本项研究纳入了2011年11月至2019年10月期间在本机构对心脏解剖结构正常、带有心内膜起搏导线的永久性CIED患者进行了临床指示性CMR（n = 171）检查，并使用美国心脏协会的17段模型分析了cine和LGE序列是否存在伪影。

右侧发生器植入和抬臂成像与无伪影的节段数量显著增加有关。在植入右侧起搏器的患者中，短轴平衡稳态自由期LGE的无伪影节段的中位数百分比为93.8%（IQR 9.4%，n = 53），而左侧起搏器为78.1%（IQR 20.3%，n = 58）（p < 0.001）。在接受左侧植入式心律转复除颤器的患者中，采用抬臂成像时的无伪影节段的中位百分比达到87.5%（IQR 6.3%，n = 9），而在变质梯度回声短轴cine中采用抬臂成像，则降至62.5%（IQR 34.4%，n = 9）（p = 0.02）。

 图 在手臂向下（左）和手臂向上（右）扫描位置的CMR冠状bSSFP定位器。测量从CIED发生器引起的信号空隙区伪影中间到心脏边缘的最短距离，单位为cm。抬臂扫描增加了心脏和发生器之间的距离。D1表示测量的距离，SP表示测量结果，单位为cm

与CIED相关的伪影能会大大降低CMR的诊断价值。抬臂成像是一种直接的、无多余花费的解决方法，可减少植入左侧发生器患者的CIED引起的CMR伪影，并可与其他改善IQ的方法（如宽带LGE）一起使用。在临床上，对于已知需要后续CMR的CIED患者，应考虑植入右侧发生器以保证将来的图像质量。
原文出处：

Aino-Maija Vuorinen,Lauri Lehmonen,Jarkko Karvonen,et al.Reducing cardiac implantable electronic device-induced artefacts in cardiac magnetic resonance imaging.DOI:10.1007/s00330-022-09059-w